Produkt
Allgemeine Beschreibung
Elektronische Baugruppen werden im kleiner und kompakter. Das führt zu immer kleineren Rasterabständen und Testpunkten.
Die neu entwickelte Kontaktiereinheit „MTH“ (Micro Test Handler) ist mit Hilfe eines integrierten Bildverarbeitungssystems in der Lage, kleinste Kontaktflächen präzise zu kontaktieren.
Kleine Testpunkte mit einer Größe von 0,2 mm können mit dem „Micro Testhandler“ zuverlässig geprüft werden. Die Prüflinge benötigen bei dieser Lösung keine Zentrierbohrungen, was auch die Kontaktierung von Keramiksubstraten, Glasplatten und Flexiblen Leiterplatten ermöglicht. Mit Hilfe eines Kamerasystems werden die Kontaktstifte entsprechend der Lage der Testpunkte auf den Prüfling ausgerichtet. Es ist eine Lagekorrektur von +- 2 mm und 3 Grad möglich.
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